基體效應是屬于樣品中產生的誤差，所以我們在進行X熒光光譜儀檢測時，為了得到精準的數據，需要對樣品進行長時間的制備，以減少基體效應的影響。下面就為大家帶來的是基體效應的解決方法。

減小基體效應

可以使用稀釋劑將樣品進行高倍稀釋，或者使用重吸收劑，這樣的處理可以事基體的狀態變穩定。但是同樣，這個方法有缺點：強度會減弱；對于壓片制樣，可能會不均勻；加入吸收劑的話，可能會直接影響被測元素。

稀釋法的原理是通過加入一定量的稀釋劑或者吸收劑，這樣可以使其聯合質量衰減系數控制在一個相對穩定的共同值附近，這樣可以有效減弱樣品的吸收增強效應。由于稀釋法對組成負責或者吸收和增強效應強烈的樣品比較有效，所以被廣泛的使用。如果將不均勻的樣品用溶劑熔融或做成溶液。就可以同時得到均勻和稀釋樣品的效果。

目前，國內外主要使用的稀釋劑有：金屬Li、Na的硼酸鹽或碳酸鹽、碳粉、鋁粉、石英粉以及有機化合物如淀粉、聚苯乙烯、酚醛樹脂、甲基或乙基纖維素等。?

粉末試樣配置

粉末樣品研磨

補償基體效應

內標法：在試樣中加入已知量的內標元素，該內標元素的X射線熒光特征與待分析元素相似。內標法要求在分析元素與內標元素譜線所對應的吸收限之間，不可有主量元素的特征譜線存在。

標準加入法：在未知樣中加入一定量的待測元素，比較加入前后試樣中待測元素X射線熒光強度的變化；常用于復雜試樣中單個元素的測定。

散射比法：試樣所產生的特征X射線熒光和試樣對原級譜的散射線在波長相近處行為相似，也就是說，它們的強度比與試樣無關。所選的散射線可以是X光管靶材的相干和非相干散射線或試樣對原級譜的連續譜的散射（即背景）。所選散射線和待測元素分析線波長之間不可以有主要元素的吸收線且所選散射線有足夠的強度。常用于輕基體重痕量金屬元素的測定。

以上就是這次為大家帶來的關于基體效應的消除方法。