X熒光光譜儀采用的是X射線熒光來進行檢測的分析儀器,讓我們一起來進一步了解一下。
X射線的性質
X射線是作為一種電磁波存在,X射線具有波粒兩重性的特點:光電效應,吸收、散射和衍射。
吸收:當X射線穿過物質時要減弱,減弱的大小,取決于吸收介質的厚度和密度,在用以吸收介質里,不同波長的射線減弱的程度也不同。
散射:散射系數由相干(瑞利)散射和非相干(康普頓)散射組成。相干散射是指當X光子與電子碰撞時,方向改變而能量沒有損失,其波長未變。若電子所受約束松弛,碰撞的X光子要損失一部分能量給電子,因而被散射的光子能量減少,這種散射過程為非相干。
衍射:衍射是由于相干散射線的干涉而產生的。常用的衍射模型是布拉格模型,見下圖,波長為λ的平行單色X射線束,以θ角照射到間距為d的一組晶面上。每個晶面所有方向上散射入射線束。但是,只有在特定的方向上,才產生增強效應。
布拉格衍射模型
這就是布拉格方程,其中n是衍射級數,n=1, 2, 3, .. d為衍射面間距(A);θ為入射線和衍射面之間的夾角。X射線光譜儀,通常以2θ(衍射線和入射線之間的夾角)來表示。
一臺X熒光光譜儀由X光管、光學系統、探測器和計算機系統組成,另外還包括冷卻、真空、進樣和樣品制備等輔助設備。
以上就是這次為大家帶來的關于X熒光光譜儀的相關內容,你學到了嗎?
不知道你對光譜分析這個概念有沒有大致的了解了呢。